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发明专利

  • 专利名称:基于化学修饰和同位素标记多肽氨基酸序列从头测序方法
    专利类型:发明专利
    专利号:CN201510726791.0
    发布日期:2025-11-03
    授权公告日:
  • 详细内容

    本发明涉及一种基于化学修饰改性和同位素标记的多肽氨基酸序列从头测序方法。利用N端和C端标记后的多肽分子质量以及保留时间的相关性,将不同标记的相同多肽的二级质谱图进行关联。利用不同标记样品中多肽在质谱碎裂过程中形成的N端和C端碎片离子对,对多肽氨基酸序列进行从头测序。本发明通过对多肽使用带有正电荷的试剂进行修饰改性,有利于多肽在质谱中碎裂时形成丰富的碎片离子;同时,通过使用含有不同轻重同位素的试剂进行标记,多肽在质谱中碎裂时形成成对存在的碎片离子,易于分辨,从而降低干扰信号的影响,提高碎片离子选择特异性以及从头测序的速度;利用N端和C端碎片离子的互补性,提高多肽测序准确度和效率。

    院属单位:中国科学院大连化学物理研究所

    联系人:梁振

    联系方式:13624989118

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