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实验检测

  • 宽带宽角扫描紧耦合阵列高效优化设计

    类型:专利
    成熟度:正在研发
    专利号/型号:
    交易方式:
    简介: 本成果利用阵元间的强耦合特性拓宽阵列带宽,实现天线单元的超宽带设计,并在此基础上开展布阵研究,实现了宽带大规模紧耦合阵列宽角扫描下低副瓣性和良好的驻波性能。
  • 详细内容
    技术指标:
    (1)2-8 倍频;
    (2)俯仰向:±60°,方位向 360°;
    (3)副瓣电平≤-20 dB;
    (4)VSWR≤2.5。
    创 新 点:
    构建了基于互耦影响下的宽带大规模紧耦合阵列快速分析与高效优化方法,
    在阵列优化设计过程中,将互耦影响考虑其内,并在此基础上开展不同形式紧耦
    合单元超宽带优化设计和布阵研究,构建了一体化分析和智能优化平台。
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