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实验检测

  • 云纹光栅精密测量系统

    类型：专利
    成熟度：正在研发
    专利号/型号：
    交易方式：
    简介： 成果简介：本成果采用阵列式云纹光栅投影及相机采集技术，同时实现了大视场及高精度三维形貌及变形测量。在视场范围超过 1 米时，三维变形计量的精度优于 3 微米。在精密工业测量、质量在线监测等方面具有广阔应用前景。
  • 详细内容
    技术指标：
    （1）测量视场：>1000 mm；
    （2）测量分辨率：优于 3 微米。
    创 新 点：
    本成果创新性采用阵列式相机及云纹光栅技术，利用提出的光栅自优化方法
    和多光学系统标定技术，扩大了视场范围，极大地提高了测试分辨率及精度。
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