本科研成果主要是基于面阵CCD开发了一套高温场测量设备，测温范围为800~1200℃，测温误差≤±5℃。并对CCD单个像素响应的非均匀性以及光学系统的渐晕引起的温场测量畸变进行了有效校正。目前该成果已在IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement、Measurement Science and Technology等测量类国际核心期刊上发表SCI论文4篇。
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单光谱CCD高温计
类型：专利成熟度：正在研发专利号/型号：交易方式：完全转让简介： 本科研成果主要是基于面阵CCD开发了一套高温场测量设备，测温范围为800~1200℃，测温误差≤±5℃。并对CCD单个像素响应的非均匀性以及光学系统的渐晕引起的温场测量畸变进行了有效校正。 -
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