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电气自动化

  • 云纹光栅精密测量系统

    类型:专利
    成熟度:已有样品
    专利号/型号:
    交易方式:完全转让,共建载体
    简介: 本成果采用阵列式云纹光栅投影及相机采集技术, 同时实现了大视场及高精 度三维形貌及变形测量。在视场范围超过 1 米时, 三维变形计量的精度优于 3 微 米。在精密工业测量、质量在线监测等方面具有广阔应用前景。
  • 详细内容

    本成果采用阵列式云纹光栅投影及相机采集技术, 同时实现了大视场及高精 度三维形貌及变形测量。在视场范围超过 1 米时, 三维变形计量的精度优于 3 微 米。在精密工业测量、质量在线监测等方面具有广阔应用前景。

    技术指标:

    (1) 测量视场: >1000 mm;

    (2) 测量分辨率:优于 3 微米。

    创 新 点:

    本成果创新性采用阵列式相机及云纹光栅技术, 利用提出的光栅自优化方法 和多光学系统标定技术,扩大了视场范围,极大地提高了测试分辨率及精度。

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